X射线吸收谱仪

技术参数： 

√工作能量范围: XAFS 测量模式下工作能量范围最大为 4.5kev~20keV; 可升级至 25keV;

√ 光通量: XAFS 测量模式下, 可升级至光通量 3.0×10⁶光子数/s(7~9keV)

√  罗兰圆中心定位精度 ≤ 50μm。

√  近边能量分辨率 0.5-1.5eV@(7~9)keV。

√  谱仪能量分辨率: (2.0~5.0)×10^-4(△E/E), 覆盖多个不同的能量位置和不同的布拉格角;

√  布拉格角: 谱仪采用双罗兰圆几何布局, 可扫描布拉格角范围55°~85°;

√  测试元素: 覆盖第四周期过渡金属K边, 第六周期L边和镧系锕系等稀土元素；

√  氦气通道: 具备一体成型氦气通道, 可内充氦气以减少空气对X射线的吸收；

在不同布拉格角度实现氦气通路比例 ≥70%, 光通量提升 ≥400%@5.5keV；

√  样品轮: 配置 XAFS 测量模式 18 位样品轮, 样品快装,能够实现多样品连续测量;

√  外壳防护: 产品外壳整体具备自屏蔽能力, 配备防辐射透明观察窗；

√  X射线管:可选 4 种靶材, 单一X射线管即可应对 XAFS 和 XES 的测量需求

√  XAFS 测量模式和 XES测量模式使用同一侧窗固定靶X射线管, 最大功率 ≥3.0kw

√  可拓展高压电源配置:最大工作高压为 45keV, 最大工作电流为 45mA

√  提供 Johann球面 Si/Ge 晶单色器

√  弯晶单色器已预校准,具备姿态调节机构。弯晶单色器可整体快速安装在谱仪内,且装卸弯晶单色器后无需额外的校准步骤即可执行测试；

√  弯晶重复定位精度: 弯品单色器重复拆装 10 次以上的重复定位精度 ≤15um。

√  弯晶单色器重复拆装的姿态偏摆 ≤3"、俯仰≤10”。

√  硅漂移检测器 (SDD), 吸收层厚度450μm, 吸收层面积 ≥150mm²,能量分辨率≤136eV.

√  配置位于罗兰圆上的出射狭缝:出射狭缝宽度可调, 调节区间 (1~1.5) mm。

出射狭缝具备防散射功能, 有效截止 70% 以上的有害散射信号。

√  仪器适配的原位电催化反应池, 池体搭载包括软管、液罐、蠕动泵等在内的成套液路控制系统。

√  原位电催化反应池在 7KeV 时对X射线的透过率≥50%。

原位电催化反应池可实现多种元素的析氢、析氧、二氧化碳还原及尿素氧化等原位电催化 XAFS 测试。

仪器适配的原位气固相光催化反应池,池体搭载包括软管、液罐、机械臂在内的成套实验系统。

√  原位气固相光催化反应池在 7KeV 时对X射线的透过率 ≥50%。

原位气固相光催化反应池可实现双光路夹角 (0~90)° 可调功能, 可适配 (5~25) mm任意直径石英光纤。

原位气固相光催化反应池可实现 CO2 还原原位光催化 XAFS 测试。

√  软件具备光源调节、运动控制、测试参数设置、XAFS 测量、XES 测量等功能。

软件具备自动化样品测试功能,用户可自定义测试流程并完成多个样品的 XAFS 自动连续测量,无需人为干预。

√  可根据用户需求定制设备。